XSWIR4455智能高光谱
概述 :Hinalea 的 Model 4455 XSWIR 是其获奖的智能高光谱成像解决方案系列的下一代产品。该型号覆盖扩展短波红外（XSWIR）光谱范围，从 1120 nm 到 2100 nm。系统兼具高光谱与高空间分辨率，同时具有出色的性价比与便携性。Model 4455 采用前视定点式高光谱成像技术，无需机械扫描，进一步提升了系统的稳定性与应用灵活性。
主要特点：
高空间分辨率和高光谱分辨率
实时成像与分类
XSWIR (1120 - 2100 nm)
光谱波段数：225
光谱分辨率：~15 nm (FWHM)
传感器空间分辨率： 636 x 508 pixels
成像方式：前视定点式高光谱成像
4455 扩展短波红外（XSWIR）高光谱成像传感器 Hinalea Model 4455 XSWIR 高光谱成像传感器专为 1120–2100 nm 扩展短波红外光谱范围而设计，具有小巧紧凑、高度便携、重量轻的特点。该系统基于前视式 Fabry–Pérot 干涉技术，集成了支持多种高光谱成像应用所需的硬件与软件。 Model 4455 能够在数秒内采集整个扩展 SWIR 光谱范围的高空间分辨率图像数据立方体（hyper-cube），也可根据需求灵活编程，仅扫描特定波段。通过针对不同应用和目标的动态控制，可显著优化数据采集与处理效率。 凭借这种设计，Model 4455 在保持高光谱与高空间分辨率的同时，避免了传统线扫描或多光谱滤波阵列快照式系统常见的图像均匀性问题。此外，该传感器还具备小型化、轻量化和成本可控等优势，非常适合在实验室、生产线或现场环境中快速部署。 强大软件支持 Model 4455 XSWIR 系统配备专有应用软件，支持高速、便捷的高光谱数据立方采集，并内置直观的图像分类与分割功能，为用户提供高效、灵活的高光谱成像解决方案。 |
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捕获的波长标准数据立方体光谱的屏幕截图。
